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TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪
作者:佚名    产品展示来源:本站原创    点击数:2688    更新时间:2012/2/19

涂层测厚仪概述

TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。

符合以下标准:

  • GB/T 4957-1985 涡流方法
  • JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
  • JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪功能特点

  • 采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
    (如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
  • 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)
  • 设有五个统计量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有存贮功能:可存贮350个测量值
  • 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
  • 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警
  • 具有打印:可打印测量值、统计值
  • 具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理
  • 具有电源欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能
  • 具有自动关机功能

涂层测厚仪技术参数

  • 测头类型:N
  • 测量原理:电涡流
  • 测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
  • 探头连接方式:分体式导线连接
  • 示值误差:
    1. 一点校准(um):±[3%H+1.5]
    2. 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
  • 测量条件:
    1. 最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
    2. 基体最小面积的直径(mm):ф5
    3. 最小临界厚度(mm):0.3
  • 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 上下限设置:无
  • 存储能力:350个测量值
  • 打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑
  • 关机方式:手动和自动
  • 电源:二节AA型碱性电池
  • 外形尺寸:152×47×35mm
  • 重量:370g

涂层测厚仪基本配置

  • 主机
  • 铝基体
  • 标准片一套|五片
  • 二节AA型(5号)1.5V电池
  • 仪器保护套
  • 使用说明书

涂层测厚仪可选附件

  • TA230打印机

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